バックラッシュ
動的バックラッシュ測定
METKIT副製品をコアPLATOプラットフォームに追加し、回転方向逆転および・または速度（トルク）逆転を使用して動的バックラッシュテストを実行
最高の精度を得るには、フルハンティング（オーバーロール）期間を分析するか、サイクルタイムが指示された場合は、より短い期間にわたって分析します。 ドライバーまたは駆動ギアに対する結果を報告します。
さまざまな負荷と複数の負荷交換を組み合わせて、ゼロ負荷がたつきを迅速に計算します。
テストマシンに簡単に統合
PLATOとテスト・マシン間の簡単なOPC通信は、統合を容易にします。
費用対効果の高いDAQハードウェア
National Instruments™社のカウンタ・タイマDAQカード群は、標準の為、非常に費用対効果の高いダイナミックバックラッシュテストソリューションを提供します。
TEおよび・またはNVHテストと組み合わせる
PLATOとそのアドオン副製品のモジュール性は、テストサイクルの組み合わせ（NVHやバックラッシュ、NVH、バックラッシュ、伝送エラーテストなど）を簡単に構築できることを意味します。
明確で正確な結果
動的バックラッシュの結果は、PLATOの直観的なテストレポートを使用して報告され、OPCを介して機械コントローラ（PLC）に渡され、PLATOの結果データベース（SQL）に保存され、オプションとしてPLATOサーバに渡されます。